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JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验

放大字体  缩小字体 发布日期:2022-05-24 10:15:16    浏览次数:80
标题

JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验

JESD22-A119A-2015低温存储寿命试验

说明:在不加任何偏压情况下,藉由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力,此试验过程不施加偏压,试验结束后回到常温才能够进行电性测试

推荐设备:TEC

IEC 60068-2-3 试验方法 Ca:稳态湿热

1.测试目的:

本试验法之目的在决定元件、装备或其它产品于定温(constant temperature)、高相对湿度环境下操作及储存的适应性。

2.范围

本试验法可同时适用于生热(heat-dissipating)及不生热(non heat -dissipating)试件。

3.无限制。

4.测试步骤:

4.1 试件于试验前应依相关规范之规定执行目视检查、电性及机械检验。

4.2 试件放入试验柜中之情况必须符合相关规范,试件入柜后为避免在试件上形成水珠,最好事先将试件温度预热至试验柜中之温度条件。

4.3 试件依规定之驻留加以保温。


 
(文/小编)
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