平面度，是归属于尺寸公差中的一种，指物件表面具备的宏观经济凸凹高宽比相对性理想化平面的误差。在传统式的检验方式 中，平面度的测量一般有：塞规/塞尺测量法、液平面法、激光器平面干涉仪测量法（平晶干预法）、水准仪/数据水准仪测量法、及其价格测量法。
塞尺测量法，只需一套可随身带的塞尺就可随时开展平面度的粗测。现阶段许多加工厂仍应用该方式 开展检验。因为其精密度不高，基本超薄塞尺为10um，检验高效率较低，結果不足，只有检验零件边沿。
液平面法，根据连通器原理，合适测量持续或不持续的大平面的平面度，但测量时间长，且对溫度比较敏感，仅适用测量精密度较低的平面。
激光器平面干涉仪测量法，最典型性的使用方法是平晶干预法。但关键于测量光滑的小平面的测量，如千分头测量面，卡规的工作台面，光学镜片。
水准仪测量法，普遍用以产品工件表面的平行度和平面度测量。测量高精度、可靠性好、体型小、方便使用。可是用该方式 测量时必须不断移动仪器设备部位，纪录各测量点的数据信息，费时间、费劲，调整时间长，数据处理方法程序流程繁杂。
价格测量法，典型性运用为平板电脑测微仪及三坐标仪，在其中优以三坐标仪为运用。测量时指示仪在被测试品上挪动，手动型影像测量仪按选中的设点测取各测量点相对性于测量标准的数据信息，再历经数据处理方法鉴定出平面度偏差。但其高效率较低，一般一个试品必须数分钟，离15ppm的期待相差甚远。
